永喬科技有限公司

IMC瑕疵檢測系統

IMC瑕疵檢測系統


適用於半導體封測廠之測試製程。

系統說明

在生產開線QC品管單位為確保Wire bonding過程中Ball Bond 與Pad之間接觸面的情況,會挑檢幾個做破壞性的檢查,而在檢查過程中以往是人工操作顯微鏡方式,將數張不同高度影像合成再運算接觸面, 過程通常需耗時數小時。

永喬的IMC瑕疵檢測系統(IMC Coverage Judge System)可自動對焦、校正,縮短QC所需時間。

 

機台架構

檢測項目

  • 處理拍照合成項目
  • MAP拍照後可挑選要拍照的取店列表後自動對位跑點OM拍照
  • OM單點拍攝各Z軸位置合成清晰影像
  • 可提供尺寸校正片