永乔科技有限公司

瑕疵检测系统

瑕疵检测系统


适用于半导体封测厂之测试制程。

系統說明

在生产开线时QC品管单位为确保Wire bonding过程中Ball Bond 与Pad之间接触面的情况,会挑检几个做破坏性的检查,而在检查过程中以往是人工操作显微镜方式,将数张不同高度影像合成再运算接触面, 过程通常需耗时数小时。

永乔的IMC瑕疵检测系统(IMC Coverage Judge System)可自动对焦、校正,缩短QC所需时间。

 

机台架构

检测项目

  • 处理拍照合成项目
  • MAP拍照后可挑选要拍照的取店列表后自动对位跑点OM拍照
  • OM单点拍摄各Z轴位置合成清晰影像
  • 可提供尺寸校正片